蔡司Sigma系列产品将场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）技术与卓越的用户体验相结合。
使用Sigma直观的工作流程，构建成像和分析程序，提高生产力。您将以前所未有的速度捕获更多数据。在高分辨率成像方面毫不妥协-采用低电压并受益于1 kV或以下的增强分辨率和对比度。从多种探测器选项中进行选择，以根据您的应用精确定制Sigma：您可以研究各种样品，无论是正在开发的新材料、质量检测用颗粒还是生物或地质样品。即使在低电压条件下，也可利用NanoVP lite在极端条件下的变压（VP）成像，在非导体上实现出色的图像和分析。
从设置到基于人工智能的结果，得到专业指导：直观的成像工作流程
当您预订FE-SEM仪器时间时，您希望获得最佳结果。您知道质量和速度通常与经验有关，但是-您操作FE-SEM多久了？如果这不重要呢？
使用Sigma 360获得专家级结果，即使您是新手用户。易于使用的工作流程可让您简化每个步骤。蔡司SmartSEM Touch的软件自动化功能让您开始导航、参数设置和图像采集的第一步。然后ZEN核心开始发挥作用。
这不仅仅是一个软件界面：ZEN核心的生态系统附带了特定于任务的工具包。AI Toolkit可让您基于机器学习分割图像。将联合收割机多模态实验与Connect Toolkit相结合。或者使用材料应用程序分析微观结构。
查看1 kV及以下电压下的差异：增强的分辨率和优化的对比
FE-SEM设计用于高分辨率成像。参考样本很容易成像，但重要的是从真实世界的样本中获得高质量的图像，例如，带电的氧化铝或容易受到碳污染的生物组织。光学柱是性能的关键。Sigma采用蔡司Gemini 1电子光学器件，可对任何样品提供出色的分辨率，特别是在低电压下。独特的是，Sigma 360的低kV分辨率现在规定为500 V，1.9 nm。通过最大限度地减少色差，1 kV分辨率提高了10%以上。即使在可变压力模式下使用后向散射检测，成像也比以往任何时候都更容易，即使在那些具有挑战性的样品上也是如此。
在极端情况下执行VP成像：在非导体上的出色性能
在SEM中研究非导电样品需要涂层或可变压力，因此您只有两种选择：丢失信息或图像质量下降。这是许多SEM用户过去的假设，但假设现在是错误的。想象一下，您可以在高压下处理电池阴极颗粒或培养细胞，而无需涂层或团队中需要熟练的SEM用户。NanoVP lite和新的探测器可以轻松地从5 kV以下的非导体中获得高质量的数据。成像和EDS分析功能得到增强，可提供更多表面敏感的图像信息、更快的图像和图谱采集时间，以及增强的原射束电流，从而加快EDS图谱的绘制速度。
