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METROTOM 1500

METROTOM 1500

第三代计算机断层成像(CT)系统-蔡司 METROTOM 1500 证明了先进可靠的X射线技术不再是愿景。今天,您可以使用面向未来的无损质量检测技术。

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第三代计算机断层成像(CT)系统-蔡司 METROTOM 1500 证明了先进可靠的X射线技术不再是愿景。今天,您可以使用面向未来的无损质量检测技术。

更快的扫描

借助探测器的不同操作模式,扫描时间可减少多达 75%,同时获取与 2K 探测器相当的体素尺寸。


更多的洞悉

在第三代系统中,新的 3K 探测器可生成更高分辨率的3D体积数据集,即更多体素可检测到更小的缺陷。


可靠的结果

蔡司将其在计量方面的高水平能力融入CT技术,实现可靠的高精准性能。在整个视场中可实现 MPEsD(参考 VDI/VDE表 1.3)-测量结果值得您信赖。


智慧的设计

缩减后的占地面积仅为 6.7m²,服务使用门结构设计巧妙,可于测量实验室的狭小空间内灵活安装。为了方便、安全地装载大型及重型工件,操作员可从正面进入系统。


更大工件的扫描

为了最大限度地利用测量实验室的空间,扩大了测量空间范围,同时减少了占用空间。占地面积 6.7m²,可测量及检测高达 870mm 的零部件-市场上系统/部件体积比的良好选择。


ZEISS METROTOM 1500-FEATURES


测量范围无图像扩展直径 330 mm, 高度 270 mm
启用更大垂直图像扩展直径 330 mm, 高度 870 mm
启用更大垂直及水平图像扩展(可选)直径 615 mm, 高度 800 mm
限制行程及测量范围的最大工件尺寸优化后直径范围直径 770 mm, 高度 1350 mm
优化后高度范围直径 516 mm, 高度 1500 mm
最大工件重量单位kg50
兼容软件(部分)ZEISS METROTOM OS, ZEISS CALYPSO, ZEISS PiWeb